13100616637(華中地區)

                                                                                18171289006(華南和西南)

                                                                                18502799852(其它地區)

                                                                                當前位置:首頁  >  產品中心  >  熱分析產品 > 霍爾效應測試儀(HEM)

                                                                                • 霍爾效應測試儀(HEM)
                                                                                  霍爾效應測試儀(HEM)

                                                                                  可用于一般半導體材料的霍爾系數、電阻率、電子遷移率、載流子濃度的常溫測量,是研究半導體和電子材料的電子特性的重要工具。

                                                                                  時間:2023-6-14型號:HEM訪問量:2320
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